XRF分析是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法，用于在整個行業(yè)范圍內(nèi)驗(yàn)證鍍層的厚度和成分。其基本的無損性質(zhì)，加上快速測量和結(jié)構(gòu)緊湊的臺式儀器等優(yōu)點(diǎn)，能實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場分析并立即得到結(jié)果。

 

原理：當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

 

XRF光譜儀的使用注意事項(xiàng)： 

1、為了保持儀器的良好外觀，需經(jīng)常對儀器表面做清潔工作，用軟布擦拭灰塵。

2、向樣品腔內(nèi)放樣品時(shí)，一定要注意清潔，不可使樣品塵粒掉入其中，否則會污染X光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞。 

3、樣品蓋需要用酒精棉球做好清潔工作。 

4、為使儀器能長期工作正常，需定期對各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測試，并進(jìn)行調(diào)整。

5、儀器只允許經(jīng)培訓(xùn)的人員才能操作，其他人員一律不能操作。 

6、使用、保存和搬動中，要特別小心，以免磕碰、損傷外表、損壞內(nèi)部線路。